測量開關(guān)接觸電阻的原理

　　定義為觸點(diǎn)兩端的電壓與流過一對閉合觸點(diǎn)的電流之比。它遵守歐姆定律。Metal 1和Metal 2之間有一個接口。來自電流源的電流I流過這個接口，可以從電流表中讀取。然后可以從電壓表中將接口上的電壓降讀取為 U。然后可以計(jì)算接觸電阻值Rx。

　　Rx=U/I

　　由于接觸電阻隨環(huán)境和電流的通過而變化，因此測量條件應(yīng)接近使用條件。準(zhǔn)確的測量必須使用四端測量技術(shù)和熱電動勢消除技術(shù)。這種間接測量方法可用于測量接觸電阻或回路電阻。它需要三個測試點(diǎn)、三個步驟和三個公式。該方法已被證明是正確的，也可用于校準(zhǔn)回路電阻標(biāo)準(zhǔn)。

　　接觸電阻測試的典型方法

　　四線 (Kelvin) 直流電壓降是使用微歐表進(jìn)行接觸電阻測試的典型方法，它通過消除自身的接觸電阻和測試引線的電阻來確保更準(zhǔn)確的測量。

　　接觸電阻測試使用兩個電流連接進(jìn)行注入和兩個電位引線進(jìn)行電壓降測量；電壓電纜必須盡可能靠近要測試的連接，并且始終位于由連接的電流引線形成的電路內(nèi)。

　　基于對電壓降的測量，微處理器控制的微歐表計(jì)算接觸電阻，同時消除連接中熱 EMF 影響可能產(chǎn)生的誤差（熱 EMF 是當(dāng)兩種不同金屬接觸時產(chǎn)生的小熱電偶電壓）連接在一起）它們將被添加到測量的總電壓降中，如果不通過不同的方法（極性反轉(zhuǎn)和平均，熱電動勢幅度的直接測量等）從測量中減去它們，則會將誤差引入觸點(diǎn)電阻測試。

　　如果在小電流下測試斷路器接觸電阻時獲得低電阻讀數(shù)，建議在更高電流下重新測試觸點(diǎn)。為什么我們會受益于使用更高的電流？較高的電流將能夠克服端子上的連接問題和氧化，在這些條件下，較低的電流可能會產(chǎn)生錯誤（較高）的讀數(shù)。

　　在接觸電阻測試中保持一致的測量條件非常重要，以便能夠與之前和未來的結(jié)果進(jìn)行比較以進(jìn)行趨勢分析。因此，在進(jìn)行定期測量時，接觸電阻測試必須在相同的位置，使用相同的測試引線（始終使用制造商的校準(zhǔn)電纜）和相同的條件下進(jìn)行，以便能夠知道何時連接、連接、焊接或設(shè)備將變得不安全。